利用 Zwicky Transient Facility 识别变光变 AGN 过渡
摘要
变化光变 AGN (CL-AGN) 是在 Sekharan 类型之间转换的 AGN，这挑战了 AGN 统一模型。大多数 CL-AGN 都是通过重复光谱学手段识别的，这使得确定 CL-AGN 过渡的持续时间和规模变得困难。因此，仍不清楚这种过渡背后的物理机制。我们结合合成光度测量和 ZTF 光曲线数据，开发了一种新的判据来识别基于 g 带幅度变化和 g-r 颜色变化的光度 CL-AGN 过渡。我们发现，CL-AGN 判据为 | Δ g| > 0.4 mag and | Δ (g-r)| > 0.2 mag 可在 ZTF 调查的六年期间恢复 9.6^{+4.9}_{-3.4}% 的 CL-AGN 主机中光度过渡，包括 SDSS J084957.78+274728.9 一例可能重复的变光变事件。使用模拟 AGN 光曲线，我们估计在六年期间，模拟 Sekharan 类型中类似flare的误报率为 1.6^{+0.19}_{-0.17}%。我们发现，类似flare的发生率在 Type 1 Sekharan 中为 1.2^{+0.87}_{-0.50}%，在 Type 2 Sekharan 中为 ≤ 0.39%。光度 CL-AGN 过渡持续 21 到 560 天，中位数为 360 天，与 AGN 盘的热力学或轨道时间尺度相符。我们未检测到黑洞质量与过渡持续时间之间的相关性，这可能是由于检测到的光度过渡样本较小所致。该方法可应用于即将到来的空间光度 survey (LSST) 以识别 CL-AGN 候选人并检验其起源理论。
关键词
引用
@article{arxiv.2604.12109,
title = {Identifying Changing-Look AGN Transitions in Light Curve Data with the Zwicky Transient Facility},
author = {Margaret E. Verrico and K. Decker French and Vivienne F. Baldassare and Colin J. Burke and Laura Duffy and Nicholas Earl and Megan Harrison and Jason T. Hinkle and Alexander Messick and Samaresh Mondal and Yashasvi Moon and Margaret Shepherd and Zachary Stone},
journal= {arXiv preprint arXiv:2604.12109},
year = {2026}
}
备注
25 pages, 11 figures, to be re-submitted to ApJ after a positive referee report. Comments welcome!