从X射线检测中识别AGN-I：以X射线亮度为主要输入参数的金属度校准

我们首次提出了两种半经验强线校准方法，用于确定以直接可观测的X射线亮度(Lx)而非无量纲电离参数($U$)为输入的活跃性天体(AGN)金属度。校准源自使用{sc Cloudy}代码计算的广泛光谱网格，与来自Burst Alert Telescope(BAT)活跃性天体光谱调查(BASS)的观测数据进行比较。本文首先为两种关键光学金属度诊断器 developing基于$N2$和$O3N2$指数的校准，这些校准在金属度范围$8.0 \lesssim 12 + \log({\rm O/H}) \lesssim 9.1$或$0.2 \lesssim (Z/Z_{\odot}) \lesssim 2.6$内有效，精度为$1\sigma \approx 0.22$ dex($N2$)和$\approx 0.20$ dex($O3N2$)。我们系统性地考察了AGN光谱指数$(\alpha_{ox})$、窄线区(NLR)气体密度$(N_{\rm e})$、Big Blue Bump特征峰温度$(T_{\rm BB})$以及Lx的影响。我们发现两者指数对Lx都存在强烈且相互矛盾的二次依赖。我们表明，若忽略该参数，将遗漏诊断器固有的系统偏差，导致金属度误差可达约$1.0$ dex，特别是对于最不透明和最亮的源。该框架通过利用AGN固有的X射线发射来减轻这些系统偏差，为对NLR中化学富集更精确的表征提供了可能。