夸克与胶子喷射中已识别带电粒子
高能物理 - 实验
2010-04-08 v1
摘要
使用 1994-1995 年由 Delphi 检测器在 LEP 记录的数据,选取了 220 万个 hadronic Z 衰变样本,进行对 π⁺、K⁺ 与 p 以及它们的反粒子在胶子和夸克喷射中不可辨认分布的改进测量。个体已识别粒子的产生谱在胶子喷射中相对于夸克喷射较软,并观察到胶子喷射中带电粒子总数的更高,与不可辨认带电粒子的结果一致。在胶子喷射中观察到显著的质子增强,表明质子产生直接来自色对象。对夸克喷射中 K 粒子的 ξ 分布最大值 ξ* 在胶子喷射和夸克喷射中观察到不同。
引用
@article{arxiv.hep-ex/0106063,
title = {Identified Charged Particles in Quark and Gluon Jets},
author = {The DELPHI Collaboration and P. Abreu},
journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ex/0106063},
year = {2010}
}
备注
24 pages, 12 figures