纯及掺杂 La$_{1-x}$R$_x$AgSb$_2$ (R = Ce, Nd) 电荷密度波化合物的静水压研究

金属间化合物 LaAgSb$_2$ 表现出两次电荷密度波 (CDW) 相变，这是通过电阻率 ($\rho$)、磁化率和 X 射线散射测量检测到的；上部相变发生在$T_1 \approx 210$ K，并伴随$\rho(T)$中的大幅反常，而下部相变则以$T_2 \approx 185$ K 处更为细微的反常为标志。我们通过在$P < 23$ kbar 条件下测量$\rho(T)$，研究了静水压 ($P$) 对纯及掺杂 La$_{1-x}$R$_x$AgSb$_2$ (R = Ce, Nd) 化合物中上部 CDW 态形成的影响。我们发现，静水压以及用较小的 Ce 和 Nd 离子部分取代 La 所引入的化学压，均导致 CDW 基态被抑制，例如有序温度$T_1$降低。与纯 LaAgSb$_2$ 甚至具有可比$T_1$ ($P=0$) 的 La$_{0.75}$Nd$_{0.25}$AgSb$_2$ Nd 掺杂样品相比，Ce 掺杂样品的$dT_1/dP$值高出约 2-4 倍。这种对压力的敏感性增加可能是由于压力下 Ce-杂化增强所致。铈掺杂化合物的磁有序温度也因压力而降低，且 Ce 掺杂样品的高压行为由近藤杂质散射主导。