HMI 环图分析：跟踪、噪声与分辨率的影响
太阳与恒星天体物理
2022-08-17 v1
摘要
环图分析是一种标准的局部日震学技术。太阳动力学天文台（SDO）上日震与磁成像仪（HMI）的数据常被用于环图分析，对功率谱的拟合以及反演结果是标准数据产品。在本文中，我们考察了不同跟踪速率、噪声和分辨率对环图分析结果的影响。大部分分析针对 区块进行，但我们也考察了不同区块大小的影响。我们发现最大的影响来自分辨率。多普勒噪声对结果影响很小，或许在区块能给出可靠结果的最深层区域除外；跟踪速率的变化具有类似的影响。
引用
@article{arxiv.2206.00689,
title = {HMI Ring Diagram Analysis: Effects of tracking, noise and resolution},
author = {Sarbani Basu and Richard S. Bogart},
journal= {arXiv preprint arXiv:2206.00689},
year = {2022}
}
备注
Accepted for publication in Solar Physics