基于锁相热成像技术的磁卡效应高通量直接测量
材料科学
2017-10-17 v1
摘要
我们展示了一种利用锁相热成像（LIT）技术对磁卡效应（MCE）进行高通量直接测量的方法。该方法能够对由 MCE 引起的温度变化的磁场依赖性和工作频率依赖性进行系统性测量。与传统的绝热温度测量方法相比，这可以在更短的时间内完成。基于 LIT 的直接测量不受使用热力学关系进行间接测量时可能产生的任何计算错误和误差的影响。重要的是，LIT 技术使得对多种材料同时进行 MCE 测量成为可能，而无需增加测量时间，实现了 MCE 的高通量研究。通过将该方法应用于 Gd，我们在 300.5 0.5 K 温度下，于 1.0 T 调制磁场和 0.5 Hz 调制频率下获得了 1.84 0.11 K 的 MCE 诱导温度变化，这提供了 LIT 方法给出定量结果的证据。
引用
@article{arxiv.1710.05819,
title = {High-throughput direct measurement of magnetocaloric effect based on lock-in thermography technique},
author = {Yusuke Hirayama and Ryo Iguchi and Xue-Fei Miao and Kazuhiro Hono and Ken-ichi Uchida},
journal= {arXiv preprint arXiv:1710.05819},
year = {2017}
}
备注
12 pages, 5 figures