利用甚大阵列 VHF 系统高精度测量电离层 TEC 梯度
空间物理
2015-06-03 v1 天体物理仪器与方法
摘要
我们利用甚大阵列 (VLA) 对明亮宇宙射电源（天鹅座 A）进行了相对较长且连续的 VHF 观测，以展示该仪器研究电离层的能力。该干涉仪及同类仪器能够在比许多其他仪器更广泛的尺度上观测电离层总电子含量 (TEC) 的波动。我们表明，利用明亮源，VLA 能够以 0.0003 TECU 的精度测量天线对之间的微分 TEC 值 (delta-TEC)。在此，我们详细介绍了为实现此精度水平所采用的数据归约和处理技术。此外，我们展示了利用这些高精度 delta-TEC 测量值来计算阵列观测到的 TEC 梯度以及 TEC 梯度表面内的小尺度波动的技术。一篇 companion 论文详细介绍了用于表征该数据中类波动特性的专用频谱分析技术。
引用
@article{arxiv.1201.3872,
title = {High-precision Measurements of Ionospheric TEC Gradients with the Very Large Array VHF System},
author = {J. F. Helmboldt and T. J. W. Lazio and H. T. Intema and K. F. Dymond},
journal= {arXiv preprint arXiv:1201.3872},
year = {2015}
}
备注
accepted for publication in Radio Science