用于光机传感器 interrogation 的高动态范围电光双光梳测量
光学
2022-03-31 v1 仪器与探测器
摘要
本文展示了一种交错的、啁啾的电光双光梳系统，用于对腔光机传感器进行快速、高动态范围的测量。该方法能够在远大于其他方法可实现的量程上，以快至 10 {\mu}s 的测量时间对腔位移进行 interrogation。虽然这一新型读出方法的性能是通过光机加速度计来评估的，但该方法适用于广泛的应用，包括温度、压力和湿度传感以及声学和分子光谱学。
引用
@article{arxiv.2203.16509,
title = {High dynamic range electro-optic dual-comb interrogation of optomechanical sensors},
author = {D. A. Long and B. J. Reschovsky and T. W. LeBrun and J. J. Gorman and J. T. Hodges and D. F. Plusquellic and J. R. Stroud},
journal= {arXiv preprint arXiv:2203.16509},
year = {2022}
}
备注
4 pages, 9 figures