优化简单电路测试用例数的启发式方法

本文提出了一种用于测试简单两级电子电路的新方案。它最小化了为确定电路真实性而需执行的测试数量。本研究背后的主要思想是识别给定电路中存在的最大数量的不可区分故障，并根据已检测到的故障数量来最小化测试用例数。启发式方法用于测试最小化部分，它从所有测试用例中识别出必要测试。从结果观察到，测试最小化程度在50%到99%之间，最低值对应于具有四个逻辑门的电路。对于符号数量相同的布尔表达式，与逻辑门输入端较多的电路相比，逻辑门输入端较少的电路的测试最小化程度较低。实现99%缩减的原因是大量测试发现了相同的故障。这种新方法在简单电路上进行了实现。结果表明，它在更小的测试集和更低的CPU时间方面均具有潜力。