赫歇尔银河系平面 [NII] 精细结构发射巡天
星系天体物理
2015-12-09 v1
摘要
我们呈现了首个通过银河系平面内电离氮的两条精细结构跃迁([NII])在 122 m 和 205 m 处的发射进行的大尺度高角分辨率巡天。观测主要利用赫歇尔空间天文台搭载的 PACS 仪器获得。视线方向位于银河系平面,遵循赫歇尔 OTKP 项目 GOT C+ 的那些视线。两条谱线在 10 - 10 msr 水平上于 -60 60 范围内被可靠探测到。给定指向的 25 个 PACS 空间像元(spaxels)间强度的 通常小于平均强度的三分之一,表明发射是延展的。[NII] 产生于氢被电离的气体中,碰撞激发由电子完成。两条精细结构跃迁的比值提供了对电子密度的直接测量,得出 主要处于 10 至 50 cm 范围,平均值 29 cm,且 N 柱密度为 10 至 10 cm。[NII] 发射与 [CII] 发射高度相关,我们计算出 [CII] 发射中有 1/3 到 1/2 与电离气体相关。相对较高的电子密度表明 [NII] 发射源并非暖电离介质(WIM),后者的电子密度小 100 倍以上。观测到的 [NII] 的可能起源包括致密原子和分子云的电离表面、HII 区的延展低密包层,以及 WIM 的低填充因子高密度涨落。
引用
@article{arxiv.1510.05706,
title = {Herschel Galactic plane survey of [NII] fine structure emission},
author = {Paul F. Goldsmith and Umut A. Yıldız and William D. Langer and Jorge L. Pineda},
journal= {arXiv preprint arXiv:1510.05706},
year = {2015}
}
备注
51 pages, 24 figures, accepted by The Astrophysical Journal