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处理六角网格表面代码中的制造缺陷

量子物理 2025-08-12 v1

摘要

最近的工作表明,六角网格量子比特布局仅需每量子比特三个耦合器,即可实现与传统四耦合器布局相当的表面代码性能 [McEwen 等,2023]。本文提出一种处理六角网格表面代码中故障量子比特和耦合器的方法,基于扩展 LUCI 框架 [Debroy 等,2024]。我们表明,对于孤立故障量子比特,电路距离下降一个;对于孤立故障耦合器,距离在一个或两个基底中下降一个。通过提供可行的 dropout 策略,我们消除了六角量子比特网格在大规模量子纠错硬件实现中的关键瓶颈。

关键词

引用

@article{arxiv.2508.08116,
  title  = {Handling fabrication defects in hex-grid surface codes},
  author = {Oscar Higgott and Benjamin Anker and Matt McEwen and Dripto M. Debroy},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2508.08116},
  year   = {2025}
}

备注

7 pages, 6 figures