盾牌-半人马臂温电离气体的Halpha与[S II]发射

我们展示了 Wisconsin H-Alpha Mapper [S II] {\lambda}6716 和 H{\alpha} 在银经 310{\deg} < l < 345{\deg} 处盾牌-半人马臂温电离介质 (WIM) 的光谱图。利用消光校正后的 H{\alpha} 强度 (IH{\alpha}c)，我们测量了该旋臂中电子密度平方的指数标高为 H_ne^2 = 0.30 kpc（假设距离为 3.5 kpc），介于银河系内部和英仙臂的观测值之间。[S II]/H{\alpha} 谱线比在较大 |z| 处和 IH{\alpha}c 较暗的视线方向上有所增强。我们发现 [S II]/H{\alpha} 谱线比与 IH{\alpha}c 之间存在幂律关系，其值从 IH{\alpha}c < 0.2 R (Rayleighs) 时的约1.0变化到 IH{\alpha}c >= 100 R 时的约0.08。该谱线比与 H{\alpha} 强度的相关性优于其与盘面高度的相关性，表明 WIM 内部的物理条件随电子密度发生系统性变化。我们认为谱线比随高度的变化是电子密度随高度降低的结果。我们的结果进一步强化了已有的图像，即弥漫的 H{\alpha} 发射主要源于就地光致电离气体的发射，散射光仅是次要贡献者。