胶子饱和：DIS中前导中子的存活概率
高能物理 - 唯象学
2015-06-04 v1
摘要
本文讨论了一个快度隙过程的例子：质子深度非弹性散射 (DIS) 中前导中子的包容截面。我们提出并求解了该过程的方程，给出了单快度隙过程存活概率的理论计算示例。结果表明，存活概率的值很小，并且随能量增加而减小。
引用
@article{arxiv.1204.0675,
title = {Gluon saturation: survival probability for leading neutrons in DIS},
author = {Eugene Levin and Sebastian Tapia},
journal= {arXiv preprint arXiv:1204.0675},
year = {2015}
}
备注
22pp, 15 figures in eps files