利用短基线中微子及反中微子-电子散射数据对源和探测器非标准相互作用的全局分析

我们对所有已知的短基线中微子与反中微子-电子散射实验中的半轻子和纯轻子非普适以及味改变非标准中微子相互作用进行了全局分析。由于基线长度与中微子能量之比可忽略地小，不足以使中微子振荡，这些实验中的源和探测器处的非标准效应可能更为透明，从而可对两端的新物理敏感。我们使用了两个电子中微子-电子散射实验和六个电子反中微子-电子散射实验的数据，并将其结合，通过仅源、仅探测器的分析来寻找非标准参数的最佳拟合，进而找出两种情况之间的相互作用。某些情况下得到的界限更强且为新结果，某些情况下与当前界限相当，而其他情况下更弱。例如，由源与探测器非标准物理之间的相互作用在源处对非标准参数 {\epsilon}_{ee}^{udL} 得到的界限强得多，且与间接界限相当；但本研究中参数 {\epsilon}_{{\mu}e}^{udL} 和 {\epsilon}_{{\tau}e}^{udL} 的界限相比间接界限更弱。我们还给出了标准弱混合角 sin{\theta}_{W}=0.249+-0.020 的全局拟合，其精度较先前研究提高了2%。