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用于NNLO及以上带电流深度非弹性散射的通用重味质量方案

高能物理 - 唯象学 2022-04-07 v2 高能物理 - 实验

摘要

当前对中微子与核物质相互作用认知的不完备性,对长基线中微子实验搜寻轻子CP破坏构成了主要限制。本文给出一项新计算,将相关于进行中和未来中微子项目的带电流深度非弹性散射(DIS)过程在QCD中的理论精度提升至次次领头阶(NNLO)。在SACOT-χ\chi通用质量方案中,质量依赖的夸克贡献在宽泛动量转移范围内被一致包含。适当时,我们进一步在零质量方案中纳入N3^3LO修正。我们展示了对若干中微子实验在宽能量范围及即将建成的电子-离子对撞机上的理论预言。我们的预言将微扰不确定性降至 ⁣1%\sim\!1\%,足以满足未来带电流DIS测量的高精度目标,并为轻子混合与CP破坏的实验研究提供重要理论输入。

关键词

引用

@article{arxiv.2107.00460,
  title  = {General heavy-flavor mass scheme for charged-current DIS at NNLO and beyond},
  author = {Jun Gao and T. J. Hobbs and P. M. Nadolsky and ChuanLe Sun and C. -P. Yuan},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2107.00460},
  year   = {2022}
}

备注

7 pages, 4 figures; published version