高纯Ne、Ar和Xe中厚型GEM的增益极限
仪器与探测器
2014-11-20 v1
摘要
研究了厚型气体电子倍增器(THGEM)中雪崩电荷增益对Ne、Ar和Xe填充气体纯度的依赖性。在标准条件（大气压、室温）下用α粒子测量的增益发现，在经非蒸散型吸气剂纯化的气体中显著下降。另一方面，向惰性气体中添加少量N2导致了可达到的高增益。这些结果对于惰性气体中气体雪崩探测器的运行具有普遍意义，特别是对于用于稀有事件的两相低温探测器。
引用
@article{arxiv.1001.4741,
title = {Gain limits of a Thick GEM in high-purity Ne, Ar and Xe},
author = {J. Miyamoto and A. Breskin and V. Peskov},
journal= {arXiv preprint arXiv:1001.4741},
year = {2014}
}
备注
15 pages, 6 figures, submitted to JINST