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GeNi2O4 中受挫的少数自旋

强关联电子 2007-08-24 v1

摘要

最近观察到,反铁磁尖晶石 GeNi2_2O4_4 在冷却过程中发生了两次连续的相变,分别发生在 TN1=12.1T_{N1}=12.1 K 和 TN2=11.4T_{N2}=11.4 K \cite{matsuno, crawford}。利用非极化和极化弹性中子散射,我们表明这两次相变是由于该化合物中存在受挫的少数自旋所致。冷却至 TN1T_{N1} 时,<111><111> \kagome 面上的自旋在面内呈铁磁有序,而在面间呈反铁磁有序(相 I),使得分隔 \kagome 面的 <111><111> 三角面上的自旋保持受挫和无序状态。在较低的 TN2T_{N2} 时,三角面自旋也在 <111><111> 面内有序(相 II)。我们还提出了一个涉及交换相互作用的场景,定性解释了这两次纯磁相变的起源。

关键词

引用

@article{arxiv.0708.3162,
  title  = {Frustrated minority spins in GeNi2O4},
  author = {M. Matsuda and J. -H. Chung and S. Park and T. J. Sato and K. Matsuno and H. Aruga-Katori and H. Takagi and K. Kakurai and K. Kamazawa and Y. Tsunoda and I. Kagomiya and C. L. Henley and S. -H. Lee},
  journal= {arXiv preprint arXiv:0708.3162},
  year   = {2007}
}