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从密度到界面涨落:表面张力波长依赖性的起源

软凝聚态物质 2009-11-13 v2 统计力学

摘要

通过相应密度-密度关联函数的一般平衡性质,推导了两共存体相间涨落界面的高度-高度关联函数。可以定义一个依赖于波长的表面张力 γ(q)\gamma(\mathbf{q}),并用直接关联函数 c(r,r)c(\mathbf{r},\mathbf{r}')、平衡密度分布 ρ(r)\rho_{\circ}(\mathbf{r}) 以及一个将密度与表面构型关联起来的算符来表示。分别确定高度-高度关联或 γ(q)\gamma(\mathbf{q}) 的一般结构,既不需要有效界面哈密顿量概念,也不需要压力差。该结果推广了 Mecke/Dietrich 表面张力 \gmd\gmd (Phys. Rev. E {\bf 59}, p. 6766 (1999)),并修正了最近发表的关于 \gmd\gmd 的批评 (P. Tarazona, R. Checa and, E.Chac\'{o}n: Phys. Rev. Lett. {\bf 99}, p. 196101 (2007))。

关键词

引用

@article{arxiv.0812.1707,
  title  = {From density to interface fluctuations: the origin of wavelength dependence in surface tensions},
  author = {Thorsten Hiester},
  journal= {arXiv preprint arXiv:0812.1707},
  year   = {2009}
}

备注

8 pages, 1 figure