条纹跟踪性能监测：VLTI 上的 FINITO
天体物理仪器与方法
2015-06-12 v1
摘要
自 2011 年 4 月以来，实时条纹跟踪数据与来自 VLTI/AMBER 干涉光束合成器的数据同时记录。这不仅提供了对 AMBER 还原数据进行后处理以获得更精确干涉量的可能性，还允许根据视宁度、相干时间、通量等条件估算条纹跟踪性能。首先，我们建议在 AMBER 背景下定义条纹跟踪性能指标，特别是作为 AMBER 积分时间的函数。主要思想是确定 AMBER 的最佳曝光时间：短曝光受读出噪声主导，而长曝光中的条纹则完全模糊。接着，我们将此性能指标与 Paranal 本地 ASM (环境站点监测仪) 的测量值（如视宁度、相干时间或风速等）进行关联。最后，我们还展示了利用人工神经网络对条纹跟踪性能进行建模和预测尝试的一些初步结果。
引用
@article{arxiv.1211.2213,
title = {Fringe tracking performance monitoring: FINITO at VLTI},
author = {A. Merand and F. Patru and J. -P. Berger and I. Percheron and S. Poupar},
journal= {arXiv preprint arXiv:1211.2213},
year = {2015}
}
备注
SPIE conference, Optical and Infrared Interferometry III