氦 EUV 共振谱线的形成
太阳与恒星天体物理
2017-01-11 v1
摘要
背景：虽然经典模型成功再现了许多过渡区谱线的强度，但它们预测的氦 EUV 谱线强度比观测值低约一个数量级。目标：确定氦 EUV 共振谱线的相关形成机制，以解释在宁静太阳条件下的高强度。方法：我们合成并研究了来自三维辐射磁流体动力学模拟模型的出射光谱。数值模拟中自洽地包含了日冕照射以及氢和氦的非平衡电离效应。结果：辐射转移计算得到的氦 EUV 谱线强度比在经典假设下计算的强度高一个数量级。He I 584 强度的增强主要由 He II 复合级联引起。He II 304 和 He II 256 强度的增强主要由非平衡氦电离引起。结论：分析表明，当考虑光学厚辐射转移和非平衡电离效应时，氦 EUV 谱线强度偏高这一长期存在的问题便不复存在。
引用
@article{arxiv.1610.00352,
title = {Formation of the helium EUV resonance lines},
author = {Thomas Peter Golding and Jorrit Leenaarts and Mats Carlsson},
journal= {arXiv preprint arXiv:1610.00352},
year = {2017}
}
备注
Accepted for publication in Astronomy and Astrophysics