再电离红移 21 cm 研究的前景辐射：GMRT 153 MHz 观测

前景辐射减除是未来利用红移 21 cm 观测探测再电离过程的最大挑战。我们利用一次短暂的 GMRT 153 MHz 观测，表征了从约一度到亚角分角尺度、以及 5 MHz 频带内（分辨率 62.5 kHz）背景辐射的统计特性。我们使用的统计量是可见度相关函数，或等效地，角功率谱 $C_l$。我们展示了使用相对不复杂、常规的数据校准程序所获得的结果。我们发现，即使是相当简单的校准也能估计给定频率下的可见度相关函数 $V_2(U,0)$。根据我们的观测，$V_2(U,0)$ 在所有角尺度上与前景模型预测一致，除了我们观测所探测的最大角尺度，那里的模型预测略高。另一方面，不同频率间的可见度相关性 $\kappa(U, \Delta \nu)$ 似乎对校准误差更为敏感。我们发现 $\kappa(U, \Delta \nu)$ 迅速下降，这与跨 2.5 MHz 变化小于 1% 的预测形成对比。然而在这种情况下， discrepancies 的很大一部分似乎可能是由于数据归约程序的局限性所致。