广义超对称理论中的味改变中性流和CP破坏过程

我们考虑了具有一般非普适软破缺项的超对称标准模型扩展。我们在电弱能标下，以模型无关的方式分析了来自胶微子介导的味改变中性流和CP破坏过程对这些项的约束。我们计算了胶微子介导过程的完整$\Delta F=1$和$\Delta F=2$有效哈密顿量，首次在$\epsilon^{\prime}/\epsilon$的评估中包含了盒图效应。我们给出了这些非普适软破缺项在不同参数值下的约束数值结果，并将分析扩展到轻子扇区。我们还与文献中的先前结果进行了比较。