在 $\mathbf{\sqrt{s_{\rm {\scriptscriptstyle \mathbf{NN}}}} = 5.44}$ TeV 超 peripheral Xe-Xe 碰撞中相干 $\rho^{0}$ 光生过程的首次测量

本文给出了在 $\sqrt{s_{\mathrm{\rm NN}}}= 5.44$ TeV 超 peripheral Xe-Xe 碰撞中 $\rho^{0}$ 矢量介子相干光生过程的首次测量。该结果连同此前的 HERA $\gamma$p 数据与 ALICE 的 $\gamma$-Pb 测量，描述了该过程的原子序数 ($A$) 依赖性，其对核阴影效应以及 QCD 在半硬尺度下趋于黑盘极限尤为敏感。通过衰变道 $\rho^{0}\to\pi^+\pi^-$ 在中快度测量的 ${\rm Xe}+{\rm Xe} \to \rho^{0} + {\rm Xe}+{\rm Xe}$ 过程截面为 ${\rm d}\sigma/{\rm d}y=131.5\pm 5.6 {\rm (stat.)} ^{+17.5}_{-16.9} {\rm (syst.)}$ mb。还测量了产生π对时连续谱与共振贡献之比。此外，报道了伴随一个或两个碰撞核电磁解离的事件比例。在 $\gamma A$ 系统每核子质心能量 $W_{\gamma A,n}= 65$ GeV 下，相干 $\rho^{0}$ 光生截面对于 $A$ 的依赖性符合幂律行为 $\sigma (\gamma A\rightarrow \rho^{0} A) \propto A^{\alpha}$，斜率 $\alpha = 0.96 \pm 0.02 {\rm (syst.)}$。该斜率表明存在重要的阴影效应，但仍远未达到黑盘极限下的预期行为。