利用 $B \to K\mu^+\mu^-$ 衰变指纹识别 CP 破坏新物理

$B \to K \ell^+ \ell^-$ 系统对于探索标准模型之外的新物理尤为引人关注。这类新物理效应可能提供新的 CP 破坏源，从而产生不仅可以是实数（如大多数分析所假设），也可以是复数的威尔逊系数。我们提出了一种从数据中提取复数 $C_{9 \mu}$ 和 $C_{10 \mu}$ 的新策略，该策略利用了 $B^+\to K^+ \mu^+\mu^-$ 中的直接 CP 破坏与 $B^0_d \to K_{S} \mu^+\mu^-$ 中产生的混合诱导 CP 破坏（除直接 CP 破坏外）的互补性，以及合适 $q^2$ 区间内的微分衰变率。长程效应在产生直接 CP 不对称性中起着关键作用，但由于其非微扰性质，无法可靠计算。为了描述这些效应，我们应用了 LHCb 合作组基于实验数据的模型。通过假设特定场景，我们展示了对 CP 破坏新物理的指纹识别，以及对长程贡献模型中模糊性的区分。最后，新物理可能以不同方式耦合到 μ 子和电子，这可通过轻子味普适性比值 $R_K$ 来探测。我们讨论了在存在 CP 破坏情况下的这些效应，并提出了一种测量 $B \to K e^+ e^-$ 道直接 CP 不对称性的新方法。