二次氢磷酸锂 (KH2PO4) 异常介电后效应

测量了 KH2PO4 单晶和压制粉末的介电介电常数。通常情况下，当偏置电场在 t = 0 时被切换时，实部和虚部介电常数会跳变到新值，然后随 logt 衰减。这一已知的“玻璃性”效应归因于单晶中偶然存在的可切换微小域，但在粉末中这些微小域系统性地更多。在约 7-8 K 的小温度范围内观察到一种截然不同的后效应。实部介电常数先跳变到较低值，然后以拉伸指数形式随时间增长，其时间常数随温度变化。这种现象接近于已知但未赋名的色散遵循的阿姆斯坦定律。这种色散是晶体中低浓度点缺陷的典型效应，此处归因于单个 H 键反转构成的域壁的基本运动。这种异常后效应源于这些点缺陷与微域系统之间的相互作用。其他几种 H 键铁电体也 exhibit 类似效应。它们为研究共存且相互作用的“玻璃性”和“晶体性”慢动力学效应提供了机会。