用于电子发射显微图像分析的快速模式识别
应用物理
2020-12-08 v1 图像与视频处理
等离子体物理
摘要
在这项工作中，开发了一种模式识别算法来处理和分析电子发射显微图像。给出了直流和射频发射的多种示例，证明了该算法在确定发射体空间位置与分布以及计算表观发射面积方面的适用性。该算法速度快，使用 Intel Core i5 的资源处理和分析一张显微图像仅需约 10 秒。
引用
@article{arxiv.2012.03578,
title = {Fast Pattern Recognition for Electron Emission Micrograph Analysis},
author = {Taha Y. Posos and Oksana Chubenko and Sergey V. Baryshev},
journal= {arXiv preprint arXiv:2012.03578},
year = {2020}
}