基于机器学习的快速 IR 压降估计
机器学习
2020-11-30 v1 信号处理
摘要
IR 压降约束是几乎所有芯片设计中都必须满足的基本要求。然而其评估耗时很长，且修复违例的缓解技术可能需要大量迭代。因此，快速且准确的 IR 压降预测对于缩短设计周期至关重要。近来，机器学习（ML）技术因其在诸多领域的前景与成功而被积极研究用于快速 IR 压降估计。这些研究针对不同的设计阶段各有侧重，相应地采用并定制了不同的 ML 算法。本文综述了基于 ML 的 IR 压降估计技术的最新进展。它也作为一个载体，用于讨论电子设计自动化（EDA）中 ML 应用面临的一些普遍挑战，并展示如何将 ML 模型与传统技术相集成以提升 EDA 工具的效率。
引用
@article{arxiv.2011.13491,
title = {Fast IR Drop Estimation with Machine Learning},
author = {Zhiyao Xie and Hai Li and Xiaoqing Xu and Jiang Hu and Yiran Chen},
journal= {arXiv preprint arXiv:2011.13491},
year = {2020}
}