F1——用于高计数率实验的八通道时间数字转换器芯片
高能物理 - 实验
2007-05-23 v1
摘要
为CERN的COMPASS实验开发了一款新的TDC芯片。由此产生的ASIC提供了前所未有的灵活性和功能性。它处理最高触发率和击中率的能力以及低功耗使其成为未来对撞机和固定靶实验的理想工具。首批配备F1芯片的前端电子学模块最近已在CERN的束流测试实验中使用。本文介绍了这款新TDC芯片的功能描述和规格。
引用
@article{arxiv.hep-ex/9911009,
title = {F1 - An Eight Channel Time-to-Digital Converter Chip for High Rate Experiments},
author = {G. Braun and H. Fischer and J. Franz and A. Grunemaier and F. H. Heinsius and L. Hennig and K. Konigsmann and M. Niebuhr and M. Schierloh and T. Schmidt and H. Schmitt and H. J. Urban},
journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ex/9911009},
year = {2007}
}
备注
5 pages, 5 figures