从STM实验中提取准粒子寿命
强关联电子
2015-03-19 v1 材料科学
超导电性
摘要
基于点杂质周围的准粒子干涉(QPI)，我们展示了一种分析方案，该方案利用扫描隧道显微镜(STM)实验中杂质周围的局域态密度(LDOS)数据来提取准粒子的寿命。这种数据分析方案将补充傅里叶变换扫描隧道谱方法，后者为我们提供了准粒子色散。因此，点杂质可以用作探针，从STM实验中提取准粒子寿命，这将补充其他实验方法，如角分辨光电子能谱(ARPES)。我们详述了该方案如何应用于常规金属/费米液体和超导体。
引用
@article{arxiv.1104.1749,
title = {Extracting Quasiparticle Lifetimes from STM experiments},
author = {Sumiran Pujari},
journal= {arXiv preprint arXiv:1104.1749},
year = {2015}
}