用 BZ-喷流与内盘耦合解释黑洞 X 射线双星中的“离群”轨迹

本文研究黑洞 (BH) 自旋对喷流功率的贡献，特别是对于磁囚禁盘 (MAD)，其中仅内吸积盘光度与自旋-喷流功率紧密耦合，并尝试解释两个黑洞 X 射线双星 (BHXB) 中射电光度 $L_{\rm R}$ 与 X 射线光度 $L_{\rm X}$ 关系的“离群”轨迹。我们的结果表明，BZ-喷流与内盘耦合可以解释两个 BHXB——H1743-322 与 MAXI J1348-630——射电/X 射线相关性的“离群”轨迹。尽管 H1743-322 在爆发期间的吸积盘可能处于 MAD 态，但由于 MAXI J1348-630 的喷流产生效率较低，其处于 MAD 态的概率较低。两个源内盘热光度比的差异意味着这两个 BHXB 处于不同的内盘吸积态。我们进一步研究了 MAXI J1348-630 的相变区间，发现在 $L_{\rm X}/L_{\rm Edd}\sim 10^{-3}$ 附近存在相变。本文也讨论了亚 MAD 的假设。