CEPC集成 luminometer 测量中电磁偏转效应
计算机视觉与模式识别
2025-11-04 v1 人工智能
摘要
为确保在CEPC的 Z^0 极点处对集成 luminometer 进行 10^{-4} 级相对精度测量，必须量化并尽可能纠正诸多系统效应。本文讨论了来自入射束的电磁场对初始状态电子和正电子（EMD1）以及来自 Bhabha 散射最终状态（EMD2）的影响。这两种效应都会改变最终粒子的四动量，从而导致 luminometer 中 Bhabha 计数的改变。这些效应在仿真中得到量化，并讨论了其对束流参数变化的稳定性。就基于 CEPC 检测器进行实验测量的纠正方法在概念层面上进行了讨论。
引用
@article{arxiv.2511.00686,
title = {Evolve to Inspire: Novelty Search for Diverse Image Generation},
author = {Alex Inch and Passawis Chaiyapattanaporn and Yuchen Zhu and Yuan Lu and Ting-Wen Ko and Davide Paglieri},
journal= {arXiv preprint arXiv:2511.00686},
year = {2025}
}
备注
14 pages, 10 figures, Accepted to Neurips 2025 GenProCC Workshop