代表性样本中 X 射线星系团性质的演化(EXCPReS):温度剖面提取的最优分箱
宇宙学与河外天体物理
2024-08-28 v2 高能天体物理现象
天体物理仪器与方法
摘要
我们呈现了对中等红移 处 31 个 X 射线选代表性星系团样本的 XMM-Newton 观测,其质量范围为 ~M。该样本 EXCPRES(代表性样本中 X 射线星系团性质的演化)被用于检验并验证一种生成最优分箱星系团 X 射线温度剖面的新方法。该方法使用基于软波段 X 射线面亮度剖面分割的动态规划算法,以获得在大半径处最优地满足给定信噪比阈值判据的分箱方案。由所得最优分箱的 EXCPRES 温度剖面,并结合来自本地 REXCESS 样本的那些,我们提供了温度相对误差与 [0.3-2] keV 面亮度信噪比之间的通用标度关系,及其对温度和红移的依赖性。我们推导了该样本的平均标度三维温度剖面。与 REXCESS 的平均标度三维温度剖面比较,我们发现所探测红移范围内平均剖面形状无演化证据。
引用
@article{arxiv.2311.10397,
title = {Evolution of X-ray galaxy Cluster Properties in a Representative Sample (EXCPReS). Optimal binning for temperature profile extraction},
author = {C. M. H. Chen and M. Arnaud and E. Pointecouteau and G. W. Pratt and A. Iqbal},
journal= {arXiv preprint arXiv:2311.10397},
year = {2024}
}
备注
18 pages, 13 figures, Astronomy & Astrophysics in press