在考林电阻率作用下基彭汉-施吕特日珥模型磁场的演化

我们展示了在考林电阻率的非双极项影响下，基彭汉-施吕特日珥模型磁场演化的1.5维扩散模拟结果。我们表明，初始演化由水平磁场与垂直磁场的比值决定，当该比值较大（较小）时，会导致电流片变薄（变厚），并存在一个形成新特征电流片长度尺度的临界情况。在超过考林电阻率时间的时间跨度后，电流片以与场强比值无关的 $t$ 的幂律形式变厚。这些结果表明，当模型中包含考林电阻率时，若水平场与垂直场的比值为20%或更小，撕裂不稳定性时间尺度会减少一个数量级以上。这些结果意味着，在日珥的整个生命周期中，其结构可能被考林电阻率显著改变，并且在某些情况下将允许撕裂不稳定性发生。