通过对称测量估计量子态的并发度
量子物理
2026-06-30 v1
摘要
我们推导了由对称测量引起的并发度的改进下界，该下界无需态层析成像即可保持实验可行性。更重要的是，我们解决了一个相关的不等式猜想，这意味着许多先前基于对称测量的结果严格强于基于重排的结果。此外，我们还提出了基于对称测量的真三体纠缠并发度的下界。
引用
@article{arxiv.2606.31010,
title = {Estimating the concurrence for quantum states via symmetric measurements},
author = {Hao-Fan Wang and Wen Zhou and Lin Chen and Li Xu and Shao-Ming Fei},
journal= {arXiv preprint arXiv:2606.31010},
year = {2026}
}