二维电路 QED 中基于辅助比特的宇称测量产生纠缠
介观与纳米尺度物理
2014-03-07 v1 量子物理
摘要
我们提出了一种平面电路量子电动力学中的间接双比特宇称计，其通过辅助比特的离散相互作用以及随后利用专用色散耦合谐振器进行的投影辅助比特测量来实现。量子过程层析成像和成功的测量致纠缠表明，该计本质上具有量子非破坏性。独立的相互作用和测量步骤允许在辅助比特测量的同时开始后续的数据比特操作，从而相比连续方案节省了时间。
引用
@article{arxiv.1311.5530,
title = {Entanglement genesis by ancilla-based parity measurement in 2D circuit QED},
author = {O. -P. Saira and J. P. Groen and J. Cramer and M. Meretska and G. de Lange and L. DiCarlo},
journal= {arXiv preprint arXiv:1311.5530},
year = {2014}
}
备注
5 pages, 4 figures; supplemental material with 5 figures