基于磁通量子比特的纠缠辅助电子显微镜
量子物理
2014-03-05 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
高分辨率生物电子显微镜中的一个著名问题是探测电子对样本造成的辐射损伤。因此，以最少电子数获取数据至关重要。量子方法可能是提高此背景下分辨率的唯一途径，但迄今为止所有提出的方案都需要在非常规电子光学中对电子束进行精细控制。在此，我们提出了一种基于射频超导量子干涉装置 (rf-SQUID) 的磁通量子比特 (flux qubit) 方案，将其插入本质上传统的透射电子显微镜中。该方案显著提升了实现用于辐射敏感样本的量子增强型电子显微镜的前景。
引用
@article{arxiv.1311.2377,
title = {Entanglement-assisted electron microscopy based on a flux qubit},
author = {Hiroshi Okamoto and Yukinori Nagatani},
journal= {arXiv preprint arXiv:1311.2377},
year = {2014}
}
备注
8 pages, 3 fugures