增强散斑统计以实现散射介质内部成像
光学
2022-07-19 v2 图像与视频处理
摘要
我们利用记忆效应散斑相关性对散射组织后方的非相干线性（单光子）荧光源进行成像。尽管基于记忆效应的成像技术过去已被大量研究，但对于厚散射层和复杂照明图案，这些相关性较弱，限制了该想法的实际适用性。在这项工作中，我们在组织样本与成像传感器之间引入空间光调制器（SLM），并捕获散斑图案的多种调制。我们表明，通过正确设计调制图案与重建算法，可以极大增强数据中的统计相关性。我们利用这一点展示了散射组织后方兆像素宽荧光图案的重建。
引用
@article{arxiv.2203.14214,
title = {Enhancing Speckle Statistics for Imaging inside Scattering Media},
author = {Wei-Yu Chen and Matthew O'Toole and Aswin C. Sankaranarayanan and Anat Levin},
journal= {arXiv preprint arXiv:2203.14214},
year = {2022}
}