驱动量子比特纠缠猝死现象的增强

我们研究了最近发现的纠缠猝死现象，针对的是两个量子比特系统，其中每个量子比特独立地受到储层的纵向阻尼并承受连续驱动。我们表明，驱动在相互作用绘景中产生了一个有效浴，其元素相当于各种额外的噪声源（横向、热压缩、热纵向）。结果是，由于驱动，猝死时间缩短，我们也通过直接数值计算验证了这一点。我们建议可以利用微波场驱动的超导量子比特系统地研究这一现象。