通过不可见衰变增强tau中微子出现

中微子质量本征态的衰变导致中微子味本征态的转换与存活概率的改变。引人注目的是，我们发现对于长基线OPERA实验，相较于标准振荡情形，中微子衰变提供了对预期tau出现信号的增强。某一质量本征态的衰变使 $\nu_\mu \rightarrow \nu_\tau$ 转换概率增加，这是由于不同大质量中微子分量之间的“相消干涉”减弱所致。受OPERA合作组近期发布的结果——显示观测到的 $\nu_\tau$ 事件数多于预期——的启发，我们进行了包含不可见衰变假设的统计分析。我们得到了对不可见衰变非常微弱的首选性，其最佳拟合值为 $\tau_3/m_3 \simeq 2.6\times 10^{-13}$ s/eV，并且在90$\%$置信水平下对中微子衰变寿命给出约束 $\tau_3/m_3 \gtrsim 1.3\times 10^{-13}$ s/eV。