利用光致力实现手性纳米样品的对映体特异性检测
光学
2017-12-20 v1
摘要
我们提出了一种基于力测量的新型高分辨率显微技术，用于小至 100 nm 以下尺寸手性样品的对映体特异性检测。我们深入研究了当左旋和右旋圆偏振光束分别激发样品-探针相互作用系统时，作用在手性样品附近非手性探针上的差分光致光力。我们解析地证明了该差分力与样品的对映体类型相纠缠，从而能够实现对手性夹杂物的对映体特异性检测。此外，我们证明该差分力线性依赖于样品的手性响应和探针的电响应，且与探针-样品距离的四次方成反比。基于严格的分析方法，我们提供了对旋光性从手性样品向非手性探针转移的物理见解。我们通过几个数值例子支持了我们的理论成果，突出了所导出解析特性的潜在应用。最后，我们展示了我们的方法对手性参数在 0.01 量级的纳米尺度手性样品进行对映体特异性检测的灵敏度，并讨论了如何进一步提高该灵敏度。
引用
@article{arxiv.1709.08719,
title = {Enantio-specific Detection of Chiral Nano-Samples Using Photo-induced Force},
author = {Mohammad Kamandi and Mohammad Albooyeh and Caner Guclu and Mehdi Veysi and Jinwei Zeng and Kumar Wickramasinghe and Filippo Capolino},
journal= {arXiv preprint arXiv:1709.08719},
year = {2017}
}