利用原子力显微镜进行发射率测量
介观与纳米尺度物理
2015-06-03 v1 仪器与探测器
摘要
我们证明，功能化的微机械双层悬臂梁可用作灵敏探针，以精确测量微尺度下真空中两种材料间的辐射热通量。通过对一种材料进行校准，这些测量可转化为辐射热通量、温度或材料发射率的定量数据。我们讨论了该方法的挑战与机遇，提供了关于其实施的详尽技术细节，并展示了与斯特藩 - 玻尔兹曼定律的良好一致性。我们利用该系统探测了 VO2 的相变，发现 VO2 与玻璃之间远场的辐射热传递可被可逆地调制 5 倍。
引用
@article{arxiv.1111.1193,
title = {Emissivity measurements with an Atomic Force Microscope},
author = {Pieter Jan van Zwol and Laurent Ranno and Joel Chevrier},
journal= {arXiv preprint arXiv:1111.1193},
year = {2015}
}
备注
14 pages 10 figures