相控阵馈电干涉仪中单元增益漂移对成像动态范围的限制
天体物理仪器与方法
2011-10-14 v1
摘要
与单像素馈源相比，采用相控阵馈源（PAFs）的干涉测量带来了新的校准挑战。特别是，由单元增益漂移（EGDs）引起的复合波束方向图的时变不稳定性会在干涉图像中产生校准伪影。为了将成像动态范围需求转化为PAF硬件和校准需求，我们必须学会将EGD水平与成像伪影水平联系起来。我们提出了一个基于MeqTrees的仿真框架来解决这一问题，并将其应用于目前正在为WSRT开发的APERTIF原型系统。
引用
@article{arxiv.1110.2914,
title = {Element gain drifts as an imaging dynamic range limitation in PAF-based interferometers},
author = {O. M. Smirnov and M. V. Ivashina},
journal= {arXiv preprint arXiv:1110.2914},
year = {2011}
}
备注
4 pages, 3 figures, poster presentation at the XXX URSI General Assembly and Scientific Symposium (Istanbul, Turkey, August 13-20, 2011)