重访 URu2Si2 中的电子向列性
强关联电子
2020-07-01 v1 材料科学
摘要
URu2Si2 中隐序（HO）态的本质仍是重费米子物理中 major 未解决问题之一。近来，转矩磁强法、X 射线衍射和弹阻数据表明，THO = 17.5 K 处的 HO 相变由电子向列效应驱动。在此，我们利用各向异性热膨胀、杨氏模量、弹阻和比热测量来寻找这一所谓结构失稳的热力学迹象。与已发表结果相反，我们在任何数据中均未发现转动对称性破缺的证据。有趣的是，我们的弹阻测量与已发表结果完全一致，表现出居里-韦斯发散，但我们将其归因于体积效应而非对称性破缺效应。最后，在我们的热容数据中观察到热涨落的明确证据，并由此估算出 HO 关联长度。
引用
@article{arxiv.2005.01189,
title = {Electronic nematicity in URu2Si2 revisited},
author = {Liran Wang and Mingquan He and Frederic Hardy and Dai Aoki and Kristin Willa and Jacques Flouquet and Christoph Meingast},
journal= {arXiv preprint arXiv:2005.01189},
year = {2020}
}
备注
4 Figures, 5 pages