亚开尔文温度下金属电阻中的电子加热
介观与纳米尺度物理
2009-08-26 v2
摘要
在焦耳加热存在的情况下，置于亚开尔文温度下的金属电阻中的电子温度可能显著高于声子温度。电子冷却主要通过两个过程进行：电子向连接导线及从连接导线的扩散，以及电子 - 声子耦合。本文旨在以易于在实际情境中应用的形式，呈现该问题的通用解。作为应用，我们计算了两个依赖于电子温度剖面的量：零频电流噪声的二阶和三阶累积量，作为电阻两端电压的函数。我们还考虑了随时间变化的加热，这一问题在使用电流脉冲的实验中至关重要，例如在时间分辨量热实验中。
引用
@article{arxiv.0708.3935,
title = {Electron heating in metallic resistors at sub-Kelvin temperature},
author = {B. Huard and H. Pothier and D. Esteve and K. E. Nagaev},
journal= {arXiv preprint arXiv:0708.3935},
year = {2009}
}