电子轰击下电子发射产额数据集——表面由原位XPS或AES表征
应用物理
2025-12-10 v1 材料科学
摘要
我们介绍了用于产生一系列导电和半导体材料数据集的测量、表征和标定程序。所提供的数据包括作为入射电子能量函数的电子发射产额，以及通过X射线光电子能谱（XPS）或俄歇电子能谱（AES）分析获得的表面成分。初始数据集涵盖铜和金，后续材料将在arXiv上发布。
引用
@article{arxiv.2512.08693,
title = {Electron Emission Yield Datasets Under Electron Impact From Surfaces Characterized In Situ by XPS or AES},
author = {M. Belhaj and S. dadouch},
journal= {arXiv preprint arXiv:2512.08693},
year = {2025}
}
备注
The objectif is to provide TEEY data