Cu + Au 碰撞中的电场与手征磁效应

非对心 Cu + Au 碰撞可产生强烈的面外磁场和面内电场。利用 HIJING 模型，我们研究了 200 GeV 下 Cu + Au 碰撞中电磁场的一般性质及其对电荷依赖的双粒子关联量 $\gamma_{q_1q_2}=<\cos(\phi_1+\phi_2-2\psi_{RP})>$（定义见正文）的影响，该关联量曾被用于探测手征磁效应 (CME)。与 Au + Au 碰撞相比，我们发现若电场寿命较长，Cu + Au 碰撞中的面内电场可强烈抑制双粒子关联量，甚至使其符号反转。结合若 $\gamma_{q_1q_2}$ 由椭圆流驱动效应引起则不应观察到如此强烈的抑制或反转这一预期，我们的结果建议利用 Cu + Au 碰撞来检验 CME 并理解 $\gamma_{q_1q_2}$ 背后的机制。