拉曼光谱研究电场对BiFeO$_3$单晶的影响
强关联电子
2009-11-13 v2 材料科学
摘要
利用显微拉曼光谱研究了低温下BiFeO单晶铁电畴相关的晶格动力学。声子指认显示，与薄膜中可忽略的分裂相比，与Bi-O键相关的A声子模式的横向与纵向分量之间存在显著的频率分裂。施加外电场会引起与Bi-O键相关的低能模式的频率移动。这些软化是由于压电效应引起的拉伸应力所致。我们给出了声子形变势的估算值。
引用
@article{arxiv.0710.5412,
title = {Electric field effect on BiFeO$_3$ single crystal investigated by Raman spectroscopy},
author = {M. Cazayous and D. Malka and D. Lebeugle and D. Colson},
journal= {arXiv preprint arXiv:0710.5412},
year = {2009}
}
备注
10 pages, 2 figures