晶体仪器函数对 X 射线散射诊断的影响
等离子体物理
2024-08-12 v2 仪器与探测器
摘要
具有高集成反射率的马赛克晶体广泛应用于诊断高能密度系统的光谱仪器中。X 射线散射 (XRTS) 已成为这些系统的强大诊断工具，原则上可直接获取诸如通过详细平衡条件推导的温度等重要属性。然而，测量的 XRTS 光谱因仪器函数 (IF) 而被 broadening，且若不严格考虑 IF，便风险误诊系统条件。本文详细考察 40 μm 和 100 μm 马赛克 HAPG 晶体的 IF，并分析其在 6.7-8.6 keV 能量范围内的 broadening 随仪器中位置的变化。值得注意的是，我们发现 IF 形状对高能侧存在显著的非对称性。作为示例，我们考察了 IF 非对称性对通过 XRTS 推导温度的影响，并发现若使用近似对称的 IF，会导致温度被高估。因此，我们预期对完整 IF 的详细考察将对通过 XRTS 在正向建模和无模型方法中推导的系统属性具有重要影响。
引用
@article{arxiv.2406.03301,
title = {Effects of Mosaic Crystal Instrument Functions on X-ray Thomson Scattering Diagnostics},
author = {Thomas Gawne and Hannah Bellenbaum and Luke B. Fletcher and Karen Appel and Carsten Baehtz and Victorien Bouffetier and Erik Brambrink and Danielle Brown and Attila Cangi and Adrien Descamps and Sebastian Göde and Nicholas J. Hartley and Marie-Luise Herbert and Philipp Hesselbach and Hauke Höppner and Oliver S. Humphries and Zuzana Konôpková and Alejandro Laso Garcia and Björn Lindqvist and Julian Lütgert and Michael J. MacDonald and Mikako Makita and Willow Martin and Mikhail Mishchenko and Zhandos A. Moldabekov and Motoaki Nakatsutsumi and Jean-Paul Naedler and Paul Neumayer and Alexander Pelka and Chongbing Qu and Lisa Randolph and Johannes Rips and Toma Toncian and Jan Vorberger and Lennart Wollenweber and Ulf Zastrau and Dominik Kraus and Thomas R. Preston and Tobias Dornheim},
journal= {arXiv preprint arXiv:2406.03301},
year = {2024}
}
备注
19 pages, 13 figures