同步辐射偏振在掠入射 X 射线荧光分析中的效应
材料科学
2014-11-03 v1 其他凝聚态物理
仪器与探测器
摘要
全反射 X 射线荧光 (TXRF) 光谱学在过去几年中取得了显著进展。基础科学和应用科学中的众多应用证明了其重要性。常规 X 射线荧光技术中主要的不利因素——巨大的光谱背景，将该技术的元素检测灵敏度限制在 ppm 范围。由于初级入射 X 射线束的低消光深度，TXRF 技术中的光谱背景在很大程度上得以降低。在基于同步辐射 (SR) 的 TXRF 测量中，由于同步辐射 X 射线束的偏振，光谱背景进一步降低。在此，我们详细讨论了同步辐射偏振对荧光光谱中光谱背景的影响及其对 TXRF 检测灵敏度的意义。我们提供了详细的理论描述，并展示了康普顿散射和弹性散射 X 射线的各向异性散射概率密度如何依赖于 SR 束偏振平面中的散射角 () 和方位角 ()。
引用
@article{arxiv.1405.5043,
title = {Effect of Synchrotron Polarization in Grazing Incidence X-ray Fluorescence analysis},
author = {Gangadhar Das and M K Tiwari and A K Singh and Haranath Ghosh},
journal= {arXiv preprint arXiv:1405.5043},
year = {2014}
}