电子抗磁漂移对柱形双撕裂模的影响
等离子体物理
2015-08-11 v1
摘要
双撕裂模(DTMs)已被提出作为反磁剪切托卡马克位形中“离轴锯齿”崩塌的驱动机制。最近，由平衡剪切流提供的差分旋转被证明能够解耦两个DTM共振层，减缓不稳定性的增长。在本工作中，我们转而利用电子抗磁漂移来提供这种差分旋转，该漂移出现在平衡压力梯度和有限拉莫尔半径物理效应存在的情况下。抗磁漂移还有一个额外好处，即稳定两个撕裂层局部的重新连接。利用扩展MHD代码MRC-3d进行线性和非线性模拟，我们考虑了m=2, n=1的柱形双撕裂模。我们表明，共振层之间的不对称性以及理想MHD不稳定性的出现使得DTM演化高度依赖于压力梯度的位置。通过在外侧主导共振面附近放置强漂移，我们能够饱和该模并保留环形电流环，这表明在先进托卡马克中DTM活动的出现强烈依赖于等离子体压力分布的细节。
引用
@article{arxiv.1508.01959,
title = {Effect of electron diamagnetic drifts on cylindrical double-tearing modes},
author = {Stephen Abbott and Kai Germaschewski},
journal= {arXiv preprint arXiv:1508.01959},
year = {2015}
}
备注
10 pages, 12 figures